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光電材料綜合測試系統(tǒng)方案


光電綜合測試系統(tǒng)  Comprehensive Photoelectricity Test System

 

 

光電綜合測試系統(tǒng) Comprehensive Photoelectricity Test System


 

理航光電LAEROX?的LA-SP-CPT系列光電綜合測量系統(tǒng),對各種光電探測器、光電轉(zhuǎn)換材料、半導(dǎo)體材料等進(jìn)行綜合光電測量,可以測試樣品的光譜響應(yīng)、頻率或時(shí)間響應(yīng)、線性、噪聲、暗電流、電流電壓IV特性分析等等。特別適合科研、工業(yè)、分析測試等各個(gè)領(lǐng)域,可作為光電材料或器件全方位的分析測試平臺(tái)。

 

產(chǎn)品應(yīng)用 Applications


科學(xué)研究(光電功能材料、半導(dǎo)體材料、光電轉(zhuǎn)換材料、光電器件、光電探測器等)

半導(dǎo)體封測 (如二極管、齊納二極管、LED、激光二極管 ,BJT、MOSFET、SIC、GaN等 , IC芯片 )

納米材料與器件(石墨烯、碳納米管、納米線等)

能量效率與照明 (如LED/AMOLED ;光伏/太陽電池 ;電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等)

材料特性分析(如電阻率,霍爾效應(yīng))

無源元器件、傳感器(如 電阻器、變阻器、熱敏電阻、開關(guān);光電傳感器、傳感器等)

有機(jī)材料與器件(如電子墨水、印刷電子技術(shù)等)

 

主要規(guī)格及特色 Features&Benefits


測量光譜范圍廣,覆蓋了紫外、可見、近紅外和中遠(yuǎn)紅外光譜范圍:185nm~22um

針對微弱光信號和電信號進(jìn)行探測

測量電流范圍寬:1pA~10A

光強(qiáng)分辨率高達(dá)1pW

高頻率光信號,可測量200MHz頻率響應(yīng)

擴(kuò)展接口豐富,可以與LAEROX的各種光源、激光器、光譜儀器、顯微鏡等連用

高通光效率光路設(shè)計(jì)

超大測試屏蔽暗箱

低噪聲電路

 

產(chǎn)品參數(shù)Specifications

 

產(chǎn)品型號

Model

LA-SP-CPT-XY Series

(X is Wavelength Range, Y is Special Parameters)

測量內(nèi)容

Measurement

光電綜合測量

時(shí)間響應(yīng)

Time Response

fs,ps,ns,μs,ms(可選)

頻率響應(yīng)

Frequency Response

DC~200MHz(可選);

激光波長

Laser Wavelength Range

200nm~11um(可選其中某個(gè)或幾個(gè)單一波長);

常用激光波長:266nm,355nm, 375nm,405nm,532nm,520nm,660nm,808nm,980nm;

LED光源波長范圍

LED Light Source Wavelength Range

200~4600nm((可選其中某個(gè)或幾個(gè)單一波長);)

測試光學(xué)通道

Incident Light Port

2~4(可選)

測試光路

Light Path

多光源可切換光路

偏置電壓

Bias Voltage

1.5~15V(可選)

樣品尺寸

Sample Dimensions

測試樣品宏觀尺寸:1mm~300mm;

測試樣品圍觀尺寸: nm或 um

樣品類型

Sample Type

光電探測器、太陽能電池、半導(dǎo)體材料、光電材料等等

樣品臺(tái)

Sample Stage

樣品臺(tái)可以可裝卡各種尺寸的固體、液體樣品

真空吸附樣品臺(tái)可以裝卡1英寸到12英寸硅片;

超大屏蔽測試暗箱尺寸

Large Test Chamber

900mm*800mm*900mm

連續(xù)可調(diào)光源模組

Tunable Light Source

可配套理航光電LAEROX的LA-SP-MON連續(xù)可調(diào)單色光源系統(tǒng)使用

衰減片組

Neutral Density Filters

各種透射率可供選擇,透射率范圍:0.1%~90%(可選), 比如 OD0.3,0.5,1.0,1.5,2.0,2.5,3.0等等或0.1%,1%,5%,10%,20%,30%,40%,50%,60%,70%,80%,90%等

觀察顯微鏡

Microscope

光學(xué)顯微鏡或顯微相機(jī)觀察系統(tǒng)(可選)

IV檢定測量和特性分析

IV Test

漏電、低電壓/電阻、LIV、IDDQ

I-V特性分析、隔離和印制線電阻

溫度系數(shù)、正向電壓、反向擊穿、漏電流

直流參數(shù)測試、直流電源

HIPOT

絕緣耐壓測試序列舉例等

測量最大電流

Maximum Current

1A~3A(NC,可選)

3A~10A(HC,可選)

測量最大電壓

Maximum Voltage

20V,200V,1100V(可選)

測量電流電壓分辨率

Current and Voltage Resolution

1pA / 100nV

信號調(diào)制源

Modulation Source

0~20MHz

高精度光強(qiáng)校正

Optical Power Calibration

1pW超高分辨率,另外有10pW~1uW可選;

 

可選功能模塊Optional Functional Module


理航光電LAEROX?提供了各種光電測試功能模塊,以下表格中的功能模塊可以根據(jù)實(shí)驗(yàn)測試需要選擇其中一個(gè)或多個(gè)。詳細(xì)配置方案也可以咨詢我司專業(yè)的光電工程師。


產(chǎn)品測試項(xiàng)目

Product Name

產(chǎn)品型號

Model

產(chǎn)品參數(shù)

Specifications

時(shí)間和頻率響應(yīng)等綜合測試

Comprehensive Time Response and Frequency Test

LA-SP-CPT-CTR系列

LA-SP-CPT-TR系列時(shí)間和頻率響應(yīng)等綜合測功能模塊;

時(shí)間響應(yīng):fs,ps,ns,μs,ms(可選)

頻率范圍:DC~20MHz(可選);DC~200MHz(可選);

激光波長:200nm~11um(可選);

常用激光波長:266nm,355nm, 375nm,405nm,532nm,520nm,660nm,808nm,980nm;

測試通道:2~4(可選)

光路:可切換;

光譜響應(yīng)、量子效率和IPCE等測量

Spectral Response and QE Spectrum Test

LA-SP-SR系列

LA-SP-SR系列光譜響應(yīng)和量子效率測量系統(tǒng)

測量光譜范圍:185nm~22um

分辨率:0.03~10nm(可選)

電偏置:可選配;

動(dòng)態(tài)范圍和線性測量

Dynamic Range and  Linearity Test

LA-SP-CPT-DR系列

LA-SP-CPT-DR系列動(dòng)態(tài)范圍和線性測量功能模塊;

可測量光信號動(dòng)態(tài)范圍:fw~mW;

LED光源波長范圍:200~4600nm(可選)

激光波長范圍:200~11um(可選);

常用波長:266nm,355nm,375nm,520nm,780nm等等;

光強(qiáng)可連續(xù)調(diào)節(jié);

等效噪聲功率和暗電流測試

NEP Test

LA-SP-CPT-NEP系列

LA-SP-CPT-NEP系列等效噪聲功率測量功能模塊;

NEP直接測量;

暗電流測量;

溫度特性測量

Temperature Characteristic of Dark Current and Sensitivity

LA-SP-CPT-TEP系列

LA-SP-CPT-TEP系列溫度特性測量功能模塊;

測量探測器的暗電流和靈敏度隨溫度的變化特性;

可配套LA-SP-SR系統(tǒng)測量低溫下的光譜響應(yīng)曲線;

溫度范圍:-30℃~500℃ 或 4K~800K(可選)

顯微光譜響應(yīng)測試

Micro Spectral Response Test

LA-SP-CPT-MIC系列

LA-SP-CPT-MIC系列顯微光譜響應(yīng)測試功能模塊;

樣品尺寸:納米nm或微米u(yù)m尺度樣品

光學(xué)顯微鏡主機(jī)、光源和CCD相機(jī);

顯微物鏡:20X,50X,100X

可配套LA-SP-SR光譜響應(yīng)系統(tǒng)使用;

可以配套LA-SP-M系列光譜儀和單色儀使用;

探針臺(tái)IV電流電壓測試

Probe Station IV Test

LA-SP-CPT-PROB系列

LA-SP-CPT-PROB系列探針臺(tái)測試功能模塊;

專用常規(guī)探針臺(tái)或真空探針臺(tái);

配套顯微觀察系統(tǒng);

超大屏蔽測試暗箱:900*800*900mm3

測試樣品宏觀尺寸:1mm~300mm;

測試樣品圍觀尺寸: nm或 um

探針和精密位移臺(tái)數(shù)量:1~4(可選);

精密位移調(diào)節(jié):Tx:13mm;Ty:13mm;Tz:13mm(另外有25mm位移可選);

靈敏度:1~2um(另外有更高靈敏度的nm位移臺(tái)可選)

精密源表等IV測試設(shè)備;

擴(kuò)展光學(xué)接口

注意事項(xiàng):

1,表格中的參數(shù)為整個(gè)系列的參數(shù),具體型號的具體參數(shù)根據(jù)以我司銷售工程師提供的正式報(bào)價(jià)表格為準(zhǔn)。

2,其他特殊參數(shù)或需求歡迎來電咨詢,我司可提供定制化服務(wù),并可提供系統(tǒng)應(yīng)用解決方案。

 

注意: 由于持續(xù)的產(chǎn)品改進(jìn),本手冊中的技術(shù)參數(shù)一直在更新中。如需要最新產(chǎn)品資料手冊和報(bào)價(jià)單,請聯(lián)系我司的光學(xué)工程師。聯(lián)系電話:+86-15928606469; 聯(lián)系微信:15928606469;電子郵箱:laerox@139.com


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