如果您需要對(duì)未知進(jìn)行探索;如果您需要通過(guò)光與物質(zhì)作用對(duì)材料或樣品進(jìn)行性能表征;如果您需要在190nm到22um的紫外、可見(jiàn)、近紅外、中遠(yuǎn)紅外光范圍內(nèi)挑選一款高品質(zhì)和高靈敏度的科研用途光譜儀器和光譜測(cè)量系統(tǒng),那么您總能在理航光電LAEROX?找到最適合的您的光譜測(cè)試系統(tǒng)解決方案。理航光電不但提供光譜儀器,而且提供和光譜儀配套的交叉測(cè)試儀器和交叉測(cè)量系統(tǒng)解決方案,為您的實(shí)驗(yàn)或樣品提供全方位的測(cè)試手段,對(duì)于某些特殊應(yīng)用還可以匹配您現(xiàn)有的實(shí)驗(yàn)條件進(jìn)行樣品的原位測(cè)量,測(cè)量樣品在其他物理?xiàng)l件(比如壓力、電場(chǎng)、磁場(chǎng)、加熱高溫、制冷低溫、電偏置、光偏置、真空、通電等)改變情況下的光譜特性,并且與其他測(cè)量?jī)x器配套對(duì)樣品進(jìn)行原位表征和分析(比如原子力顯微、光學(xué)顯微鏡等)。
理航光電LAEROX?提供的光譜儀器和光譜測(cè)量系統(tǒng)根據(jù)應(yīng)用主要分為以下幾個(gè)部分:
★光譜儀和單色儀
★變角度透射、反射和吸收光譜測(cè)試系統(tǒng)
★透射、反射和吸收光譜儀
★熒光和光致發(fā)光光譜儀
★光電綜合測(cè)試系統(tǒng)
★光譜響應(yīng)和量子效率測(cè)試系統(tǒng)
★拉曼光譜儀
★發(fā)射光譜和光譜輻射測(cè)試系統(tǒng)
★其他特殊定制光電或光譜測(cè)試系統(tǒng)
我們有經(jīng)驗(yàn)豐富的光電設(shè)計(jì)和研發(fā)團(tuán)隊(duì),可以根據(jù)您的科研實(shí)驗(yàn)的實(shí)際需求提供專(zhuān)業(yè)的光譜儀器和光譜測(cè)量系統(tǒng)定制服務(wù),并且為科學(xué)實(shí)驗(yàn)和分析測(cè)試提供系統(tǒng)解決方案。
我司的LA-SP系列光譜儀器和光譜測(cè)量系統(tǒng)產(chǎn)品經(jīng)過(guò)長(zhǎng)達(dá)十六年以上的技術(shù)經(jīng)驗(yàn)積累,理航光電LAEROX?已經(jīng)發(fā)展和優(yōu)化了光譜儀器和光譜測(cè)量系統(tǒng)的制造技術(shù)、光學(xué)光路設(shè)計(jì)和精密電子控制系統(tǒng),并且大量運(yùn)用于科研、光電子產(chǎn)業(yè)、物理、化學(xué)、材料科學(xué)、生物和生命科學(xué)、藥學(xué)和醫(yī)學(xué)、農(nóng)學(xué)和林業(yè)、國(guó)防工業(yè)、公安刑偵等廣大的應(yīng)用領(lǐng)域,并取得了成功的實(shí)踐驗(yàn)證。
光電綜合測(cè)試系統(tǒng)
Comprehensive Photoelectricity Test System |
光電綜合測(cè)試系統(tǒng)Comprehensive Photoelectricity Test System
理航光電LAEROX?的LA-SP-CPT系列光電綜合測(cè)量系統(tǒng),對(duì)各種光電探測(cè)器、光電轉(zhuǎn)換材料、半導(dǎo)體材料等進(jìn)行綜合光電測(cè)量,可以測(cè)試樣品的光譜響應(yīng)、頻率或時(shí)間響應(yīng)、線性、噪聲、暗電流、電流電壓IV特性分析等等。特別適合科研、工業(yè)、分析測(cè)試等各個(gè)領(lǐng)域,可作為光電材料或器件全方位的分析測(cè)試平臺(tái)。
產(chǎn)品應(yīng)用Applications
★科學(xué)研究(光電功能材料、半導(dǎo)體材料、光電轉(zhuǎn)換材料、光電器件、光電探測(cè)器等)
★半導(dǎo)體封測(cè) (如二極管、齊納二極管、LED、激光二極管 ,BJT、MOSFET、SIC、GaN等 , IC芯片 )
★納米材料與器件(石墨烯、碳納米管、納米線等)
★能量效率與照明 (如LED/AMOLED ;光伏/太陽(yáng)電池 ;電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等)
★材料特性分析(如電阻率,霍爾效應(yīng))
★無(wú)源元器件、傳感器(如 電阻器、變阻器、熱敏電阻、開(kāi)關(guān);光電傳感器、傳感器等)
★有機(jī)材料與器件(如電子墨水、印刷電子技術(shù)等)
主要規(guī)格及特色Features&Benefits
★測(cè)量光譜范圍廣,覆蓋了紫外、可見(jiàn)、近紅外和中遠(yuǎn)紅外光譜范圍:185nm~22um
★針對(duì)微弱光信號(hào)和電信號(hào)進(jìn)行探測(cè)
★測(cè)量電流范圍寬:1pA~10A
★光強(qiáng)分辨率高達(dá)1pW
★高頻率光信號(hào),可測(cè)量200MHz頻率響應(yīng)
★擴(kuò)展接口豐富,可以與LAEROX的各種光源、激光器、光譜儀器、顯微鏡等連用
★高通光效率光路設(shè)計(jì)
★超大測(cè)試屏蔽暗箱
★低噪聲電路
產(chǎn)品參數(shù)Specifications
產(chǎn)品型號(hào) Model | LA-SP-CPT-XY Series (X is Wavelength Range, Y is Special Parameters) |
測(cè)量?jī)?nèi)容 Measurement | 光電綜合測(cè)量 |
時(shí)間響應(yīng) Time Response | fs,ps,ns,μs,ms(可選) |
頻率響應(yīng) Frequency Response | DC~200MHz(可選); |
激光波長(zhǎng) Laser Wavelength Range | 200nm~11um(可選其中某個(gè)或幾個(gè)單一波長(zhǎng)); 常用激光波長(zhǎng):266nm,355nm, 375nm,405nm,532nm,520nm,660nm,808nm,980nm; |
LED光源波長(zhǎng)范圍 LED Light Source Wavelength Range | 200~4600nm((可選其中某個(gè)或幾個(gè)單一波長(zhǎng));) |
測(cè)試光學(xué)通道 Incident Light Port | 2~4(可選) |
測(cè)試光路 Light Path | 多光源可切換光路 |
偏置電壓 Bias Voltage | 1.5~15V(可選) |
樣品尺寸 Sample Dimensions | 測(cè)試樣品宏觀尺寸:1mm~300mm; 測(cè)試樣品圍觀尺寸: nm或 um |
樣品類(lèi)型 Sample Type | 光電探測(cè)器、太陽(yáng)能電池、半導(dǎo)體材料、光電材料等等 |
樣品臺(tái) Sample Stage | 樣品臺(tái)可以可裝卡各種尺寸的固體、液體樣品 真空吸附樣品臺(tái)可以裝卡1英寸到12英寸硅片; |
超大屏蔽測(cè)試暗箱尺寸 Large Test Chamber | 900mm*800mm*900mm |
連續(xù)可調(diào)光源模組 Tunable Light Source | 可配套理航光電LAEROX的LA-SP-MON連續(xù)可調(diào)單色光源系統(tǒng)使用 |
衰減片組 Neutral Density Filters | 各種透射率可供選擇,透射率范圍:0.1%~90%(可選), 比如 OD0.3,0.5,1.0,1.5,2.0,2.5,3.0等等或0.1%,1%,5%,10%,20%,30%,40%,50%,60%,70%,80%,90%等 |
觀察顯微鏡 Microscope | 光學(xué)顯微鏡或顯微相機(jī)觀察系統(tǒng)(可選) |
IV檢定測(cè)量和特性分析 IV Test | 漏電、低電壓/電阻、LIV、IDDQ I-V特性分析、隔離和印制線電阻 溫度系數(shù)、正向電壓、反向擊穿、漏電流 直流參數(shù)測(cè)試、直流電源 HIPOT 絕緣耐壓測(cè)試序列舉例等 |
測(cè)量最大電流 Maximum Current | 1A~3A(NC,可選) 3A~10A(HC,可選) |
測(cè)量最大電壓 Maximum Voltage | 20V,200V,1100V(可選) |
測(cè)量電流電壓分辨率 Current and Voltage Resolution | 1pA / 100nV |
信號(hào)調(diào)制源 Modulation Source | 0~20MHz |
高精度光強(qiáng)校正 Optical Power Calibration | 1pW超高分辨率,另外有10pW~1uW可選; |
可選功能模塊Optional Functional Module
理航光電LAEROX?提供了各種光電測(cè)試功能模塊,以下表格中的功能模塊可以根據(jù)實(shí)驗(yàn)測(cè)試需要選擇其中一個(gè)或多個(gè)。詳細(xì)配置方案也可以咨詢我司專(zhuān)業(yè)的光電工程師。
產(chǎn)品測(cè)試項(xiàng)目 Product Name | 產(chǎn)品型號(hào) Model | 產(chǎn)品參數(shù) Specifications |
時(shí)間和頻率響應(yīng)等綜合測(cè)試 Comprehensive Time Response and Frequency Test | LA-SP-CPT-CTR系列 | LA-SP-CPT-TR系列時(shí)間和頻率響應(yīng)等綜合測(cè)功能模塊; 時(shí)間響應(yīng):fs,ps,ns,μs,ms(可選) 頻率范圍:DC~20MHz(可選);DC~200MHz(可選); 激光波長(zhǎng):200nm~11um(可選); 常用激光波長(zhǎng):266nm,355nm, 375nm,405nm,532nm,520nm,660nm,808nm,980nm; 測(cè)試通道:2~4(可選) 光路:可切換; |
光譜響應(yīng)、量子效率和IPCE等測(cè)量 Spectral Response and QE Spectrum Test | LA-SP-SR系列 | LA-SP-SR系列光譜響應(yīng)和量子效率測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)量光譜范圍:185nm~22um 分辨率:0.03~10nm(可選) 電偏置:可選配; |
動(dòng)態(tài)范圍和線性測(cè)量 Dynamic Range and Linearity Test | LA-SP-CPT-DR系列 | LA-SP-CPT-DR系列動(dòng)態(tài)范圍和線性測(cè)量功能模塊; 可測(cè)量光信號(hào)動(dòng)態(tài)范圍:fw~mW; LED光源波長(zhǎng)范圍:200~4600nm(可選) 激光波長(zhǎng)范圍:200~11um(可選); 常用波長(zhǎng):266nm,355nm,375nm,520nm,780nm等等; 光強(qiáng)可連續(xù)調(diào)節(jié); |
等效噪聲功率和暗電流測(cè)試 NEP Test | LA-SP-CPT-NEP系列 | LA-SP-CPT-NEP系列等效噪聲功率測(cè)量功能模塊; NEP直接測(cè)量; 暗電流測(cè)量; |
溫度特性測(cè)量 Temperature Characteristic of Dark Current and Sensitivity | LA-SP-CPT-TEP系列 | LA-SP-CPT-TEP系列溫度特性測(cè)量功能模塊; 測(cè)量探測(cè)器的暗電流和靈敏度隨溫度的變化特性; 可配套LA-SP-SR系統(tǒng)測(cè)量低溫下的光譜響應(yīng)曲線; 溫度范圍:-30℃~500℃ 或 4K~800K(可選) |
顯微光譜響應(yīng)測(cè)試 Micro Spectral Response Test | LA-SP-CPT-MIC系列 | LA-SP-CPT-MIC系列顯微光譜響應(yīng)測(cè)試功能模塊; 樣品尺寸:納米nm或微米u(yù)m尺度樣品 光學(xué)顯微鏡主機(jī)、光源和CCD相機(jī); 顯微物鏡:20X,50X,100X 可配套LA-SP-SR光譜響應(yīng)系統(tǒng)使用; 可以配套LA-SP-M系列光譜儀和單色儀使用; |
探針臺(tái)IV電流電壓測(cè)試 Probe Station IV Test | LA-SP-CPT-PROB系列 | LA-SP-CPT-PROB系列探針臺(tái)測(cè)試功能模塊; 專(zhuān)用常規(guī)探針臺(tái)或真空探針臺(tái); 配套顯微觀察系統(tǒng); 超大屏蔽測(cè)試暗箱:900*800*900mm3 測(cè)試樣品宏觀尺寸:1mm~300mm; 測(cè)試樣品圍觀尺寸: nm或 um 探針和精密位移臺(tái)數(shù)量:1~4(可選); 精密位移調(diào)節(jié):Tx:13mm;Ty:13mm;Tz:13mm(另外有25mm位移可選); 靈敏度:1~2um(另外有更高靈敏度的nm位移臺(tái)可選) 精密源表等IV測(cè)試設(shè)備; 擴(kuò)展光學(xué)接口 |
注意事項(xiàng):
1,表格中的參數(shù)為整個(gè)系列的參數(shù),具體型號(hào)的具體參數(shù)根據(jù)以我司銷(xiāo)售工程師提供的正式報(bào)價(jià)表格為準(zhǔn)。
2,其他特殊參數(shù)或需求歡迎來(lái)電咨詢,我司可提供定制化服務(wù),并可提供系統(tǒng)應(yīng)用解決方案。
注意: 由于持續(xù)的產(chǎn)品改進(jìn),本手冊(cè)中的技術(shù)參數(shù)一直在更新中。如需要最新產(chǎn)品資料手冊(cè)和報(bào)價(jià)單,請(qǐng)聯(lián)系我司的光學(xué)工程師。聯(lián)系電話:+86-15928606469; 聯(lián)系微信:15928606469;電子郵箱:laerox@139.com