如果您需要對未知進行探索；如果您需要通過光與物質作用對材料或樣品進行性能表征；如果您需要在190nm到22um的紫外、可見、近紅外、中遠紅外光范圍內挑選一款高品質和高靈敏度的科研用途光譜儀器和光譜測量系統，那么您總能在理航光電LAEROX?找到最適合的您的光譜測試系統解決方案。理航光電不但提供光譜儀器，而且提供和光譜儀配套的交叉測試儀器和交叉測量系統解決方案，為您的實驗或樣品提供全方位的測試手段，對于某些特殊應用還可以匹配您現有的實驗條件進行樣品的原位測量，測量樣品在其他物理條件（比如壓力、電場、磁場、加熱高溫、制冷低溫、電偏置、光偏置、真空、通電等）改變情況下的光譜特性，并且與其他測量儀器配套對樣品進行原位表征和分析（比如原子力顯微、光學顯微鏡等）。
理航光電LAEROX?提供的光譜儀器和光譜測量系統根據應用主要分為以下幾個部分：
★光譜儀和單色儀
★變角度透射、反射和吸收光譜測試系統
★透射、反射和吸收光譜儀
★熒光和光致發光光譜儀
★光電綜合測試系統
★光譜響應和量子效率測試系統
★拉曼光譜儀
★發射光譜和光譜輻射測試系統
★其他特殊定制光電或光譜測試系統
我們有經驗豐富的光電設計和研發團隊，可以根據您的科研實驗的實際需求提供專業的光譜儀器和光譜測量系統定制服務，并且為科學實驗和分析測試提供系統解決方案。
我司的LA-SP系列光譜儀器和光譜測量系統產品經過長達十六年以上的技術經驗積累，理航光電LAEROX?已經發展和優化了光譜儀器和光譜測量系統的制造技術、光學光路設計和精密電子控制系統，并且大量運用于科研、光電子產業、物理、化學、材料科學、生物和生命科學、藥學和醫學、農學和林業、國防工業、公安刑偵等廣大的應用領域，并取得了成功的實踐驗證。
光電綜合測試系統 Comprehensive Photoelectricity Test System |
光電綜合測試系統Comprehensive Photoelectricity Test System
理航光電LAEROX?的LA-SP-CPT系列光電綜合測量系統，對各種光電探測器、光電轉換材料、半導體材料等進行綜合光電測量，可以測試樣品的光譜響應、頻率或時間響應、線性、噪聲、暗電流、電流電壓IV特性分析等等。特別適合科研、工業、分析測試等各個領域，可作為光電材料或器件全方位的分析測試平臺。
產品應用Applications
★科學研究（光電功能材料、半導體材料、光電轉換材料、光電器件、光電探測器等）
★半導體封測 （如二極管、齊納二極管、LED、激光二極管 ，BJT、MOSFET、SIC、GaN等 ， IC芯片 ）
★納米材料與器件（石墨烯、碳納米管、納米線等）
★能量效率與照明 （如LED/AMOLED ；光伏/太陽電池 ；電池、DC-DC轉換器等）
★材料特性分析(如電阻率，霍爾效應）
★無源元器件、傳感器(如 電阻器、變阻器、熱敏電阻、開關；光電傳感器、傳感器等)
★有機材料與器件(如電子墨水、印刷電子技術等）
主要規格及特色Features&Benefits
★測量光譜范圍廣，覆蓋了紫外、可見、近紅外和中遠紅外光譜范圍：185nm~22um
★針對微弱光信號和電信號進行探測
★測量電流范圍寬：1pA~10A
★光強分辨率高達1pW
★高頻率光信號，可測量200MHz頻率響應
★擴展接口豐富，可以與LAEROX的各種光源、激光器、光譜儀器、顯微鏡等連用
★高通光效率光路設計
★超大測試屏蔽暗箱
★低噪聲電路
產品參數Specifications
產品型號 Model | LA-SP-CPT-XY Series (X is Wavelength Range, Y is Special Parameters) |
測量內容 Measurement | 光電綜合測量 |
時間響應 Time Response | fs,ps,ns,μs,ms（可選） |
頻率響應 Frequency Response | DC~200MHz(可選）； |
激光波長 Laser Wavelength Range | 200nm~11um（可選其中某個或幾個單一波長）； 常用激光波長：266nm,355nm, 375nm，405nm，532nm，520nm，660nm，808nm，980nm； |
LED光源波長范圍 LED Light Source Wavelength Range | 200~4600nm（（可選其中某個或幾個單一波長）；） |
測試光學通道 Incident Light Port | 2~4（可選) |
測試光路 Light Path | 多光源可切換光路 |
偏置電壓 Bias Voltage | 1.5~15V(可選） |
樣品尺寸 Sample Dimensions | 測試樣品宏觀尺寸：1mm~300mm； 測試樣品圍觀尺寸: nm或 um |
樣品類型 Sample Type | 光電探測器、太陽能電池、半導體材料、光電材料等等 |
樣品臺 Sample Stage | 樣品臺可以可裝卡各種尺寸的固體、液體樣品 真空吸附樣品臺可以裝卡1英寸到12英寸硅片； |
超大屏蔽測試暗箱尺寸 Large Test Chamber | 900mm*800mm*900mm |
連續可調光源模組 Tunable Light Source | 可配套理航光電LAEROX的LA-SP-MON連續可調單色光源系統使用 |
衰減片組 Neutral Density Filters | 各種透射率可供選擇，透射率范圍：0.1%~90%(可選）, 比如 OD0.3,0.5,1.0,1.5,2.0,2.5,3.0等等或0.1%，1%，5%，10%，20%,30%，40%，50%，60%，70%，80%，90%等 |
觀察顯微鏡 Microscope | 光學顯微鏡或顯微相機觀察系統（可選） |
IV檢定測量和特性分析 IV Test | 漏電、低電壓/電阻、LIV、IDDQ I-V特性分析、隔離和印制線電阻 溫度系數、正向電壓、反向擊穿、漏電流 直流參數測試、直流電源 HIPOT 絕緣耐壓測試序列舉例等 |
測量最大電流 Maximum Current | 1A~3A(NC，可選) 3A~10A(HC,可選) |
測量最大電壓 Maximum Voltage | 20V，200V，1100V（可選） |
測量電流電壓分辨率 Current and Voltage Resolution | 1pA / 100nV |
信號調制源 Modulation Source | 0~20MHz |
高精度光強校正 Optical Power Calibration | 1pW超高分辨率，另外有10pW~1uW可選； |
可選功能模塊Optional Functional Module
理航光電LAEROX?提供了各種光電測試功能模塊，以下表格中的功能模塊可以根據實驗測試需要選擇其中一個或多個。詳細配置方案也可以咨詢我司專業的光電工程師。
產品測試項目 Product Name | 產品型號 Model | 產品參數 Specifications |
時間和頻率響應等綜合測試 Comprehensive Time Response and Frequency Test | LA-SP-CPT-CTR系列 | LA-SP-CPT-TR系列時間和頻率響應等綜合測功能模塊； 時間響應：fs,ps,ns,μs,ms（可選） 頻率范圍：DC~20MHz（可選）；DC~200MHz(可選）； 激光波長：200nm~11um（可選）； 常用激光波長：266nm,355nm, 375nm，405nm，532nm，520nm，660nm，808nm，980nm； 測試通道：2~4（可選) 光路：可切換； |
光譜響應、量子效率和IPCE等測量 Spectral Response and QE Spectrum Test | LA-SP-SR系列 | LA-SP-SR系列光譜響應和量子效率測量系統 測量光譜范圍：185nm~22um 分辨率：0.03~10nm（可選） 電偏置：可選配； |
動態范圍和線性測量 Dynamic Range and Linearity Test | LA-SP-CPT-DR系列 | LA-SP-CPT-DR系列動態范圍和線性測量功能模塊； 可測量光信號動態范圍：fw~mW； LED光源波長范圍：200~4600nm（可選） 激光波長范圍：200~11um(可選)； 常用波長：266nm,355nm,375nm，520nm，780nm等等； 光強可連續調節； |
等效噪聲功率和暗電流測試 NEP Test | LA-SP-CPT-NEP系列 | LA-SP-CPT-NEP系列等效噪聲功率測量功能模塊； NEP直接測量； 暗電流測量； |
溫度特性測量 Temperature Characteristic of Dark Current and Sensitivity | LA-SP-CPT-TEP系列 | LA-SP-CPT-TEP系列溫度特性測量功能模塊； 測量探測器的暗電流和靈敏度隨溫度的變化特性； 可配套LA-SP-SR系統測量低溫下的光譜響應曲線； 溫度范圍：-30℃~500℃ 或 4K~800K(可選） |
顯微光譜響應測試 Micro Spectral Response Test | LA-SP-CPT-MIC系列 | LA-SP-CPT-MIC系列顯微光譜響應測試功能模塊； 樣品尺寸：納米nm或微米um尺度樣品 光學顯微鏡主機、光源和CCD相機； 顯微物鏡：20X，50X，100X 可配套LA-SP-SR光譜響應系統使用； 可以配套LA-SP-M系列光譜儀和單色儀使用； |
探針臺IV電流電壓測試 Probe Station IV Test | LA-SP-CPT-PROB系列 | LA-SP-CPT-PROB系列探針臺測試功能模塊； 專用常規探針臺或真空探針臺； 配套顯微觀察系統； 超大屏蔽測試暗箱:900*800*900mm3 測試樣品宏觀尺寸：1mm~300mm； 測試樣品圍觀尺寸: nm或 um 探針和精密位移臺數量：1~4（可選); 精密位移調節：Tx：13mm；Ty:13mm;Tz:13mm（另外有25mm位移可選）； 靈敏度：1~2um（另外有更高靈敏度的nm位移臺可選） 精密源表等IV測試設備； 擴展光學接口 |
注意事項：
1，表格中的參數為整個系列的參數，具體型號的具體參數根據以我司銷售工程師提供的正式報價表格為準。
2，其他特殊參數或需求歡迎來電咨詢，我司可提供定制化服務，并可提供系統應用解決方案。
注意: 由于持續的產品改進，本手冊中的技術參數一直在更新中。如需要最新產品資料手冊和報價單，請聯系我司的光學工程師。聯系電話：+86-15928606469； 聯系微信：15928606469；電子郵箱：laerox@139.com
- 購買人 會員級別 數量 屬性 購買時間
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